首次高热惊厥患儿通常无需常规进行脑部CT检查。是否需要检查需结合发作特征、神经系统评估、既往病史、感染指标及复发风险综合判断。
1、发作特征：
单纯性高热惊厥表现为全身性强直阵挛发作，持续时间短于15分钟且24小时内无复发。此类发作多由体温骤升引起，脑部结构异常概率低，通常无需CT检查。若出现局灶性发作、持续时间过长或反复发作，则需考虑病理性因素。
2、神经系统评估：
医生会通过瞳孔反应、肌张力、病理反射等检查评估神经系统状态。若查体发现异常体征如持续嗜睡、偏瘫或视乳头水肿，提示可能存在颅内病变，此时需进行影像学检查排除脑炎、脑出血等器质性疾病。
3、既往病史：
有早产、缺氧缺血性脑病等围产期高危因素的患儿，或既往存在发育迟缓、癫痫家族史者，其脑结构异常风险增加。这类患儿首次发作后建议完善脑电图及影像学检查。
4、感染指标：
伴随严重感染症状如持续高热、颈强直、喷射性呕吐时，需通过血常规、脑脊液检查判断是否存在颅内感染。细菌性脑膜炎患儿需紧急CT检查评估脑水肿程度，病毒性脑炎则更多依赖脑脊液病原学检测。
5、复发风险：
年龄小于12个月或发作时体温低于38℃的患儿复发风险较高。对于这类高风险群体，若首次发作后出现意识恢复缓慢等异常表现，可考虑通过CT排除隐匿性脑血管畸形等病变。
